DC mažos varžos testeris
-
RK2511AL/RK2511BL/RK2511ALR DC mažo pasipriešinimo testeris
Bandymo diapazonas: 50mΩ 500MΩ 5Ω 50Ω 500Ω 5kΩ 50kΩ 200kΩ
Bandymo varžos diapazonas: 0,01 mΩ – 200,0 KΩ -
RK2511N/ RK2512N DC mažo pasipriešinimo testeris
RK2511N serijos nuolatinės srovės varžos testeris naudojamas matuojant visų rūšių ritės varžą, variklio transformatoriaus apvijų varžą, visų rūšių kabelių laidų varžą, jungiklių kištukus, lizdus ir kitą elektrinių komponentų varžą ir metalo kniedijimo varžą.10μΩ-20KΩ 100mA 10mA 1mA 100μA <5,5V
RK2512N:
1μΩ-2MΩ 1A 100mA 10mA 1mA 100μA 10μA 1μA <5,5V
-
RK2511N+/RK2512N+ DC mažo pasipriešinimo testeris
RK2511N serijos nuolatinės srovės varžos testeris yra prietaisas, tikrinantis transformatorių, variklį, jungiklį, relę, jungtį ir kitus nuolatinės srovės atsparumo tipus.
RK2511N+: 10μΩ-20KΩ
RK2512N+: 1μΩ-2MΩ
-
RK2518-8 Multiplex varžos testeris
RK2518-8 daugiakanalis varžos testeris naudojamas relės kontaktų varžoje, jungties varžoje, laido varžoje, spausdintinės plokštės linijoje ir litavimo angos varžoje ir kt.Atsparumas: 10 Μ Ω – 200K ΩSrovė: Didžiausia bandymo srovė yra 500 mA -
RK2571 / RK2571A / RK2571B / RK2571C / RK2571D nuolatinės srovės varžos testeris
RK2517 serijos nuolatinės srovės mažos varžos testeris, naudojamas relės kontaktų varžoms, jungties kištuko varžoms, laidų varžoms, spausdintinės plokštės grandinėms ir litavimo angos varžoms ir kt.
RK2571 / 1uΩ-200MΩ
RK2571A / 1uΩ-20MΩ
RK2571B / 1uΩ-2MΩ
RK2571C / 1uΩ-200kΩ
RK2571D / 10uΩ-20kΩ
-
RK2514N/AN, RK2515N/AN, RK2516N/AN/BN DC mažo pasipriešinimo testeris
RK2514N/AN、RK2515N/AN、RK2516N/AN DC mažo pasipriešinimo testeris pritaikė vieną priekinį pagrindinį 32 bitų procesorių ir didelio tankio SMD tvirtinimo technologiją, 24 bitų spalvotą 4,3 colio spalvotą LCD ekraną ir sukamąjį kodavimo įrenginį su patogia sąsaja;Jis naudojamas relės kontaktų varžoje, jungties įkišimo varžoje, laidų varžoje, spausdintinės plokštės grandinėje ir litavimo angos varžoje ir kt.;Temperatūros kompensavimas gali išvengti aplinkos temperatūros įtakos bandymo darbui;R...
